Ověřujeme budoucnost

CA20

Kompaktní a mnohostranné řešení pro 2D a 3D mikrofokální inspekci v oblasti semicon, advanced packaging a pro vědu a výzkum.

  • Navrženo pro kontrolu v polovodičovém průmyslu
  • Nedestruktivní technologie pro vhled do procesu advanced packaging v řádech minut
  • Stabilní a opakovatelná měření
  • SW podpora inspekce s automatickou kontrolou voidů pomocí Void Insights
  • Dose manager pro kontrolu RTG záření pro citlivé komponenty
  • Velikost vzorku 435 mm (17´´)
  • Velikost defektu < 1 um
Kategorie Semicon rentgenová inspekce
Naše řešení Testování a inspekce semicon
Dodavatel Comet YXLON

Máte zájem o tento produkt nebo chcete více informací?

Ing. Miloš Drlík

Key Account Manager

drlik@imtts.cz
+420 727 872 614
Kontaktovat